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SuperViewW1白光干涉儀器專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量，具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優點。

?中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀應用用途多樣、設計簡潔，能夠測量不同的材質、結構、表面粗糙度和波度，涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的形貌測量應用。

中圖儀器SuperView W1雙物鏡白光干涉儀的復合型EPSI重建算法，解決了傳統相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。在自動拼接模塊下，只需要確定起點和終點，即可自動掃描，重建其超光滑的表面區域，不見一絲重疊縫隙。

SuperViwe W1國產白光干涉儀采用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優點的擴展型相移算法EPSI，單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型，讓3D測量變得簡單。

SuperView W3三維白光干涉形貌儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的平整度、粗糙度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器白光干涉儀以高精度、高效率、高適配的核心優勢，為精密制造、科研檢測等領域提供一站式測量解決方案。從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。